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Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices

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Éditeur :

Springer


Collection :

SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology

Paru le : 2020-05-19

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Description

This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications. The focus is on thermal conductivity measurement techniques currently available for the investigation of thermal performance at the material and device level. In addition to providing detailed information on the available techniques, the book introduces readers to novel techniques based on photothermal effects. 
Pages
50 pages
Collection
SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
Parution
2020-05-19
Marque
Springer
EAN papier
9789811553479
EAN PDF
9789811553486
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
5
Taille du fichier
2806 Ko
Prix
63,29 €
EAN EPUB
9789811553486
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
5
Taille du fichier
16108 Ko
Prix
63,29 €

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