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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

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Éditeur :

Springer


Collection :

CPSS Power Electronics Series

Paru le : 2022-07-08

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Description
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device. 
Pages
172 pages
Collection
CPSS Power Electronics Series
Parution
2022-07-08
Marque
Springer
EAN papier
9789811931314
EAN PDF
9789811931321
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
17
Taille du fichier
8161 Ko
Prix
147,69 €
EAN EPUB
9789811931321
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
17
Taille du fichier
50309 Ko
Prix
147,69 €

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