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Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

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Éditeur :

Springer


Paru le : 2025-02-25

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Description

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.
Pages
167 pages
Collection
n.c
Parution
2025-02-25
Marque
Springer
EAN papier
9783031800221
EAN PDF
9783031800238
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
16
Taille du fichier
9175 Ko
Prix
126,59 €
EAN EPUB
9783031800238
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
16
Taille du fichier
22354 Ko
Prix
126,59 €

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