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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins. Instrumentation et étude de la microstructure - 2e édition

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Éditeur :

Hermés science


Paru le : 2006

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Description

Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux.

Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins. Dans une deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées.
Pages
360 pages
Collection
n.c
Parution
2006
Marque
Hermés science
EAN papier
9782746212381
EAN PDF
9782746228689
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
36
Taille du fichier
9845 Ko
Prix
98,00 €

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